亞微米粒徑檢測儀為實驗室研究提供更好的分析技術(shù)

　　亞微米粒徑檢測儀是納米粒徑分析儀器積極參與，采用現(xiàn)在的動態(tài)光散射原理運行好，利用的Nicomp多峰算法可以很的分析比較復(fù)雜多組分混合樣品多樣性。亞微米粒徑檢測儀為實驗室的研究提供的分析技術(shù)持續發展。 測試范圍：0.3 nm – 10μm技術節能。

　　一近年來、亞微米粒徑檢測儀產(chǎn)品介紹：

　　380 N3000 亞微米粒徑檢測儀采用動態(tài)光散射原理檢測分析顆粒系的粒度及粒度分布效果，粒徑檢測范圍 0.3 nm- 10μm全面革新。粒度分析復(fù)合采用 Gaussian 單峰算法和擁有技術(shù)的 Nicomp 多峰算法深入，亞微米粒徑檢測儀對于多組分形式、粒徑分布不均勻液態(tài)分散體系的分析以及膠體體系的穩(wěn)定性分析具有*優(yōu)勢覆蓋範圍，其的解析度及重現(xiàn)性是其他同類產(chǎn)品*的。

　　二功能、亞微米粒徑檢測儀工作原理：

　　動態(tài)光散射法(DLS)科普活動，有時稱為準彈性光散射法（QELS），亞微米粒徑檢測儀是一種成熟的非侵入技術(shù)關鍵技術，可測量亞微細顆粒范圍內(nèi)的分子與顆粒的粒度及粒度分布逐漸完善，使用技術(shù)，粒度可小于1nm有所提升。 動態(tài)光散射法的典型應(yīng)用包括已分散或溶于液體的顆粒了解情況、乳劑或分子表征。 懸浮在溶液中的顆粒的布朗運動法治力量，造成散射光光強的波動長期間。亞微米粒徑檢測儀分析光強的波動得到顆粒的布朗運動速度，再通過斯托克斯-愛因斯坦方程得到顆粒的粒度技術研究。