Nicomp 380
納米粒徑分析儀采用動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理來獲得范圍在0.3 nm到10 μm的膠體體系的粒度分布深刻變革。
DLS是通過一定波長的聚焦激光束照射在懸浮于樣品溶液的粒子上面智能化，從而產(chǎn)生很多的散射光波。這些光波會互相干涉從而影響散射強(qiáng)度足夠的實力，散射強(qiáng)度隨時間不斷波動適應性，二者之間形成一定的函數(shù)關(guān)系迎難而上。粒子的擴(kuò)散現(xiàn)象（或布朗運(yùn)動）導(dǎo)致光強(qiáng)不斷波動。光強(qiáng)的變化可以通過探測器檢測得到激發創作。使用自相關(guān)器分析隨時間而變的光強(qiáng)波動就可以得到粒度分布系數(shù)（Particle size distribution, PSD）更高效。單一粒徑分布的自相關(guān)函數(shù)是一個指數(shù)衰減函數(shù)，由此可以很容易通過衰減時間計算得到粒子擴(kuò)散率探索。終，粒子的半徑可以很容易地通過斯托克斯（Stokes-Einstein）方程式計算得到。
大部分樣品一般都不均勻重要作用，往往會呈現(xiàn)多分散體系狀態(tài)堅持先行，即測出來的粒徑正態(tài)分布范圍會比較大，直觀的呈現(xiàn)是粒徑分布峰比較寬增幅最大。自相關(guān)函數(shù)是由多組指數(shù)衰減函數(shù)綜合組成具體而言，每一個指數(shù)衰減函數(shù)都會因指數(shù)衰減時間不同而存在差異，此時計算自相關(guān)函數(shù)就變得不再簡單滿意度。
Nicomp 380納米粒徑分析儀巧妙運(yùn)用了去卷積算法來轉(zhuǎn)化原始數(shù)據(jù)奮戰不懈，從而得出接近真實值的粒度分布。Nicomp 尤其適合測試粒度分布復(fù)雜的樣品體系智慧與合力，利用一組*的去卷積算法將簡單的高斯正態(tài)分布模擬成高分辨率的多峰分布模式規定，這種去卷積分析方法，即得到PSS粒度儀公司*的粒徑分布表達(dá)方法-Nicomp分布（Nicomp Distribution）措施。
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