美國PSS粒度儀了分辨率更高，結(jié)果更，再現(xiàn)性更好引領，您不僅可以測量粒徑范圍更寬的顆粒主動性，而且可以更快地檢測到顆粒粒徑間極細微的差異貢獻。PIDS技術(shù)，真正實現(xiàn)10nm粒徑測量；新型的干、濕進樣模塊健康發展，“即插即用”，滿足不同的分析要求飛躍，靈活便利堅實基礎。

   美國PSS粒度儀新一代固體激光光源，無需預熱大數據，7萬小時以上開機使用壽命前景，并行式信號采集與傳輸，確保信號保持高信噪比、無時差長效機製、高通量，多波長和偏振光分析技術(shù)令粒度分布在寬動態(tài)范圍內(nèi)的性分析獲得高度保障重要部署。美國PSS粒度儀多種自動化樣品分散系統(tǒng)等地，“即插即用”，數(shù)秒即可完成切換數字技術，便利共享應用，新一代觸摸屏設(shè)計分析軟件，操作更直觀完成的事情，無需操作經(jīng)驗，簡單三步完成測量必然趨勢，直觀醒目的導航輪設備，僅需一步實現(xiàn)數(shù)據(jù)顯示與導出。

   美國PSS粒度儀檢測器數(shù)量更多文化價值，高達132枚獨立物理位置檢測器促進善治，對應高達136個真實數(shù)據(jù)通道，能夠清晰區(qū)分不同粒度等級間散射光強譜圖差異單產提升，確保不缺漏絲毫信息求索，快速、的真實粒度測量多樣性。美國PSS粒度儀設(shè)計的“X”型對數(shù)排布檢測器陣列性能穩定，可以記錄散射光強信號，不管單峰、多峰數字化，分析粒度分布新格局。

   美國PSS粒度儀全自動運算分析功能，多峰自動檢測開展攻關合作，無需事先猜測峰型特點，無需選擇分析模型，提供客觀的報告情況正常，PIDS技術(shù)提供創(chuàng)新的高分辨率納米粒度分析功能製度保障，真正實現(xiàn)10nm下限峰值測量，不僅可以直接檢測小至10nm的顆粒各領域，而且還可以直接檢測納米級的多峰分布顯示。納米分析功能與微米分析功能合二為一，功能強大自行開發，真正10nm的測量可使其作為獨立的高分辨率納米粒度分析儀使用模樣。

   美國PSS粒度儀能對樣品的顆粒數(shù)目進行量化，打破了科技界以往通過光散射和光衍射方法只能檢測均粒徑分布的局限處理方法，不僅能檢測顆粒大小數據顯示，更能對顆粒進行計數(shù)。美國PSS粒度儀這給了研究服務、生產(chǎn)和質(zhì)控人員對樣品中顆粒的大小實現、數(shù)目一個清晰明了的結(jié)果，大大助力于其研發(fā)和生產(chǎn)舉行。