Nicomp 380 系列納米粒徑與電位分析儀 是專門用于測量納米級顆粒以及膠體樣品體系的粒度分析儀器，其測量范圍為 0.3 nm - 10 μm聽得進。
 

　　儀器所擁有*的基線調(diào)整自動補償能力和高分辨率多模式算法取得顯著成效，多年來不同領(lǐng)域的使用證明了它可以區(qū)分開單峰樣本體系和無約束復雜多峰樣本體系空間廣闊，是研發(fā)的*選擇方案！Nicomp 380系列儀器是*在應用動態(tài)光散射技術(shù)上的基礎(chǔ)上加入多模塊方法的粒度儀安全鏈⌒v手段？纱钶d自動進樣系統(tǒng)、自動稀釋系統(tǒng)說服力、多角度探測及高濃度背光散射和在線監(jiān)測等模塊的積極性，隨著模塊的升級和增加更多可能性， Nicomp 380 可以更快更的用于各種復雜樣品的檢測分析。
 

　　技術(shù)優(yōu)勢：
 

　　· 符合美國USP729檢測項目I和符合中國藥典版的方法;
 

　　· 的Nicomp多峰算法和傳統(tǒng)高斯單峰算法相結(jié)合高效，為復雜體系提供更的實驗數(shù)據(jù)分析；
 

　　· 的自動稀釋模塊；
 

　　帶有的自動稀釋模塊消除了人工稀釋高濃度樣品帶來的誤差質量，大大縮短了使用者測試的寶貴時間，測試結(jié)果重現(xiàn)性好，誤差率<1%不久前；
 

　　· 度高緊迫性，重現(xiàn)性好;
 

　　· 可選配超高分辨率檢測模塊；
 

　　· 模塊化設(shè)計便于維護和升級機構；
 

　　· 特為多組分不均勻體系設(shè)計非常激烈；
 

　　· 可搭載自動進樣系統(tǒng)；
 

　　· *的樣品池設(shè)計更適合，可消除樣品的交叉污染技術交流；
 

　　· 快速檢測，可追溯歷史數(shù)據(jù)引人註目；
 

　　· 并且能提供多種類的數(shù)據(jù)展現(xiàn)形式關註，Nicomp分布以粒子粒徑大小，數(shù)量和體積的形式分布呈現(xiàn)
 

　　· Zeta電勢電位測定：Nicomp Z3000結(jié)合了動態(tài)光散射技術(shù)(DLS)和電泳光散射法(ELS)建設，實現(xiàn)了同機測試亞微米粒子分布和ZETA電勢電位共同。ELS 是將電泳和光散射結(jié)合起來的一種新型光散射，它的光散射理論基礎(chǔ)是準彈性碰撞理論，在實驗時通過在樣品槽中外加一個外電場在此基礎上，帶電粒子即會以固定速度向與帶電粒子電性相反的電極方向移動，與之相應的動態(tài)光散射光譜產(chǎn)生多普勒漂移探索創新，這一漂移正比于帶電粒子的移動速度越來越重要的位置，因此由實驗測得的譜線的漂移，就可以求得帶電粒子的電泳速度迎來新的篇章，從而得到ζ-電位值解決方案。通過測試顆粒之間排斥力 ，判斷體系穩(wěn)定性的測量手段之一共同學習。并且配備靶電極交流研討，經(jīng)久耐用。