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MLCC陶瓷漿料均一性的一體化解決方案(短篇)

 更新時間:2023-02-23  點(diǎn)擊量:1747

MLCC陶瓷漿料均性的一體化解決方案

性與穩(wěn)定性控制

MLCC全稱為Multi-layer Ceramic Capacitors合理需求,即片式多層陶瓷電容器數據顯示,是全球用量最大的片式元件之一情況,因其具備體積小實現、容量大等特征預下達,被廣泛應(yīng)用于消費(fèi)類電子近年來、家用電器應用情況、電源、照明深刻變革、通信和汽車電子等領(lǐng)域高效。MLCC陶瓷漿料是MLCC生產(chǎn)的重要環(huán)節(jié)之一。MLCC的工藝制造首先是將陶瓷漿料通過流延方式制成要求厚度的陶瓷介質(zhì)薄膜至關重要,然后在介質(zhì)薄膜上印刷內(nèi)電極質量,并將印有內(nèi)電極的陶瓷介質(zhì)膜片交替疊合熱壓,形成多個電容器并聯(lián)逐漸顯現,并在高溫下一次燒結(jié)成一個不可分割的整體芯片十大行動,最后在芯片的端部涂敷外電極漿料,使之與內(nèi)電極形成良好的電氣連接,形成MLCC的兩極體系。

MLCC陶瓷漿料作為MLCC生產(chǎn)的重要環(huán)節(jié)系統穩定性,漿料的穩(wěn)定性和均性影響著后續(xù)流延工藝和印刷工藝的效果,漿料如果易沉淀和易團(tuán)聚多種場景,陶瓷介質(zhì)的緊密型和穩(wěn)定性將會受到影響科技實力;陶瓷漿料中陶瓷粉體的粒徑會影響介質(zhì)層的厚度,陶瓷粉體粒徑過大不利于MLCC薄層化和小型化集中展示,此外還會影響MLCC產(chǎn)品的燒結(jié)性能可靠保障、介電常數(shù)、介質(zhì)損耗建設,溫度特性及容量等多方面共同;陶瓷粉體的外貌形態(tài)也會影響MLCC的性能,因此在分散過程中,需盡可能減少陶瓷粉體的損傷在此基礎上。



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奧法美嘉平臺提供整套MLCC陶瓷漿料均一性與穩(wěn)定性解決方案,可用于快速評估探索創新、優(yōu)化陶瓷漿料的配方和工藝:HM&M珠磨機(jī)用于研磨分散MLCC陶瓷漿料開展、Nicomp粒度分析儀分析平均粒徑、AccuSizer顆粒計(jì)數(shù)器分析大粒子濃度前來體驗,Lum穩(wěn)定性分析儀快速分析陶瓷漿料穩(wěn)定性簡單化,Entegris-ANOW濾芯過濾雜質(zhì)及大顆粒。

 

 

 





MLCC陶瓷漿料流程概述

陶瓷漿料的常規(guī)制備方法為:陶瓷粉體發揮重要帶動作用、粘合劑開拓創新、溶劑等按一定比例經(jīng)過珠磨(球磨)得到初始漿料珠磨機(jī)均質(zhì)陶瓷漿料后經(jīng)過過濾通過PSSNicomp粒度分析儀測試平均粒徑明確了方向、AccuSizer顆粒計(jì)數(shù)器測試過大顆粒濃度更優質、Lum穩(wěn)定性分析快速篩選陶瓷漿料配方穩(wěn)定性。

 

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陶瓷漿料粒度控制

陶瓷粉體的粒徑大小對MLCC產(chǎn)品的燒結(jié)性能空白區、介電常數(shù)、介質(zhì)損耗密度增加、溫度特性及容量等方面都有影響應用優勢。在對陶瓷漿料粒徑進(jìn)行考察時,主要評估其平均粒徑大小信息化,大顆粒濃度等指標(biāo)發展需要。目前常見的陶瓷漿料分散方法主要采用珠磨機(jī)(也叫砂磨機(jī))進(jìn)行分散。

 

        HM&M珠磨機(jī)

常見分散方法的球磨法或砂磨機(jī)全方位,在分散時物料信息、磨珠與機(jī)體之間的撞擊會對陶瓷漿料中的陶瓷粉體造成磨損,磨損的材料進(jìn)入漿液中會變成難以除去的雜質(zhì)管理,這對漿料的純度產(chǎn)生不利的影響廣泛關註,此外豐富,在某些特定情況下,球磨過程還會改變粉體的物理化學(xué)性質(zhì)顯示。例如善於監督,增加晶格完整性,形成表面無定形層等豐富內涵,影響后續(xù)燒結(jié)等工藝數據,日本HMM珠磨機(jī)的ADV機(jī)型能有效減少對陶瓷漿料的損傷。如下圖的TEM照片所示就能壓製,采用HMM的UAM機(jī)型處理時有很多碎片邁出了重要的一步,初步分析是由于粒子破壞而產(chǎn)生的鈦酸鋇,但是采用ADV機(jī)型處理中幾乎沒有發(fā)現(xiàn)鈦酸鋇碎片發揮。

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l                      img4實(shí)驗(yàn)室研究工作用的珠磨機(jī)品牌,50cc100cc150cc三種容量可供選擇創造性。(Apex Labo實(shí)驗(yàn)型)

l                      無篩網(wǎng)設(shè)計(jì)保持穩定,沒有物料堵塞風(fēng)險,運(yùn)行平穩(wěn)能力,無累積壓力,無壓力損失。

l                      可處理高粘度漿料

l                      可使用最小15um長足發展,最大0.5mm研磨珠生產製造,一臺設(shè)備滿足大多數(shù)物料研磨和分散需求。


平均粒徑檢測

陶瓷漿料中粉體的平均粒徑會影響MLCC產(chǎn)品的介電常數(shù)綜合措施,進(jìn)而影響MLCC高電容效率多元化服務體系,同種介質(zhì)材料的介電常數(shù)存在尺寸效應(yīng),控制粉體的粒徑能有效提高介質(zhì)材料的介電常數(shù)攜手共進。Yong 等發(fā)現(xiàn)粉體尺寸在約 140 nm 處存在介電常數(shù)的最大值實力增強,大于該值介電常數(shù)隨著粉體尺寸的減小而增加,小于此值介電常數(shù)隨著粉體尺寸減小而減小擴大公共數據。1粉體的平均粒徑會影響介質(zhì)層的厚度,從而影響MLCC的高電容效率和MLCC的薄層化、小型化設計標準。平均粒徑為小粒徑的產(chǎn)品具有較好的絕緣和耐電壓特性深度,小粒徑的BaTiO3產(chǎn)品(常見用于制備MLCC陶瓷漿料的陶瓷粉體材料)使用壽命將顯著延長2

 

Nicomp納米激光粒度儀系列

Nicomp系列納米激光粒度儀采用動態(tài)光散射原理檢測分析樣品的粒度分布經過,基于多普勒電泳光散射原理檢測ZETA電位帶來全新智能。

l                      圖片包含 小, 桌子, 站, 顯示器描述已自動生成粒徑檢測范圍0.3nm-10μmZETA電位檢測范圍為+/-500mV

l                      搭載Nicomp多峰算法,可以實(shí)時切換成多峰分布觀察各部分的粒徑自主研發。

l                      高分辨率的納米檢測力度,Nicomp納米激光粒度對于小于10nm的粒子仍然現(xiàn)實(shí)較好的分辨率和準(zhǔn)確度。

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1高斯粒徑分布圖

2Nicomp多峰粒徑分布圖











尾端大粒子濃度檢測

目前MLCC使用的鈦酸鋇粉體粒徑極小發展成就,在80nm以下性能,粉體表面能較大,導(dǎo)致粉體的團(tuán)聚形成大顆粒優勢,陶瓷漿料中粉體分布不均勻設計,會造成殼層厚度不均勻3,影響后續(xù)流延工藝和印刷工藝的效果品率。

 

AccuSizer顆粒計(jì)數(shù)器系列

AccuSizer系列在檢測液體中顆粒數(shù)量的同時精確檢測顆粒的粒度及粒度分布善謀新篇,通過搭配不同傳感器、進(jìn)樣器開展面對面,適配不同的樣本的測試需求供給,能快速而準(zhǔn)確地測量顆粒粒徑以及顆粒數(shù)量/濃度。

l                      img8檢測范圍為0.5μm-400μm(可將下限拓展至0.15μm)便利性。

l                      0.01μm的超高分辨率拓展應用,AccuSizer系列具有1024個數(shù)據(jù)通道,能反映復(fù)雜樣品的細(xì)微差異相關,為研發(fā)及品控保駕護(hù)航取得明顯成效。

l                      靈敏度高達(dá)10PPT級別,即使只有微量的顆粒通過傳感器影響力範圍,也可以精準(zhǔn)檢測出來大力發展。

l                      可出具法規(guī)報(bào)告





穩(wěn)定性分析檢測         

陶瓷漿料的穩(wěn)定性影響其存放時間,陶瓷漿料是生產(chǎn)MLCC的第一個環(huán)節(jié)雙向互動,再進(jìn)行后續(xù)工藝集成技術,如流延、印刷生產效率,如果漿料穩(wěn)定性較差創新的技術,在進(jìn)行上述工藝過程中發(fā)生了大量沉淀、團(tuán)聚更合理,陶瓷介質(zhì)的緊密性和穩(wěn)定性將會受到影響主動性。在陶瓷漿料制備中,控制尾端大粒子數(shù)量以及對漿料進(jìn)行分散能使陶瓷漿料更為穩(wěn)定改進措施。

 

LUM穩(wěn)定性分析儀

Lum穩(wěn)定性分析儀可以直接測量整個樣品的分散體的穩(wěn)定性,檢測和區(qū)分各種不穩(wěn)定現(xiàn)象效果,如上浮發展的關鍵、絮凝、聚集、聚結(jié)有所應、沉降等道路,通過測量結(jié)果可用來開發(fā)新的配方和優(yōu)化現(xiàn)有的配方及工藝

l                      F:\Alpharmaca&SHJNJ文件總庫\MD-市場部\MD-24 網(wǎng)站&Brochures制作相關(guān)素材信息匯總\MD-24-01 市場相關(guān)圖片素材\lum Instrument Photos\lumifuge-pic.pnglumifuge-pic快速今年、直接測試穩(wěn)定性空間廣闊,無需稀釋,溫度范圍寬廣

l                      可同時測8個樣品真諦所在,測量及辨別不同的不穩(wěn)定現(xiàn)象及不穩(wěn)定性指數(shù)

l                      加速離心研學體驗,最高等效2300倍重力加速度




過濾

過濾是在陶瓷漿料制備及使用過程中都非常重要的一道工序,用于除去CMP Slurry中的雜質(zhì)和尾端大顆粒提供深度撮合服務,為后續(xù)流延深刻內涵、印刷工藝提供更好的原料過濾時使用不同的膜將會影響物理攔截最為突出,吸附攔截等效果逐步改善,需根據(jù)不同的工藝選擇能相容該產(chǎn)品的濾芯

 

Entegris-ANOW 濾芯

Entegris-Anow是一家高分子微孔膜過濾企業(yè)開展,專業(yè)從事MCE帶動擴大、NylonPES簡單化、PVDF實現了超越、PTFE等(膜孔徑為0.03μm~10μm)微孔膜的研發(fā)及生產(chǎn),具有二十多年服務(wù)與醫(yī)藥客戶經(jīng)驗(yàn)與時俱進,并為全球生物制藥應用、醫(yī)療器械、食品飲料更優質、實(shí)驗(yàn)室分析成就、微電子及工業(yè)等領(lǐng)域的客戶提供過濾、分離和凈化解決方案項目。

EntegrisAnow的結(jié)合相對開放,引入Entegris質(zhì)量管理體系,每一支濾芯都經(jīng)過嚴(yán)格檢查綜合運用,此外相貫通,新建成的CTC驗(yàn)證中心,為全球客戶提供專業(yè)的驗(yàn)證服務(wù)脫穎而出。


[1] . Huang Y A,Biao L U,Zou Y X,et al.Grain Size Effect on Dielectric,Piezoelectric and Ferroelectric Property of BaTiO Ceramics with Fine Grains[J]. Journal of Inorganic Materials,2018,33(7):767-772.

[2] . 安可榮,黃昌蓉,陳偉健.鈦酸鋇粉體粒徑對MLCC性能的影響[J].電子工藝技術(shù),2020,41(05):295-297.DOI:10.14176/j.issn.1001-3474.2020.05.013.

[3]  劉偉峰.高效分散處理的MLCC陶瓷漿料性能分析[J].電子工藝技術(shù),2021,42(06):353-356.DOI:10.14176/j.issn.1001-3474.2021.06.012.


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