Zeta電位與粒徑分析儀是一種集納米粒度測(cè)量體系流動性、Zeta電位分析及分子量檢測(cè)于一體的多功能分析設(shè)備多種場景，廣泛應(yīng)用于納米材料健康發展、膠體化學(xué)流動性、生物醫(yī)藥、食品初步建立、環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域項目。其核心功能是通過(guò)動(dòng)態(tài)光散射（DLS）、電泳光散射（ELS）及靜態(tài)光散射（SLS）技術(shù)重要方式，同步獲取顆粒的粒徑分布綜合運用、表面電荷特性（Zeta電位）及分子量信息，為材料穩(wěn)定性評(píng)估增產、分散性優(yōu)化及工藝開(kāi)發(fā)提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支撐脫穎而出。

　　Zeta電位與粒徑分析儀在操作前的準(zhǔn)備工作：

　　1、儀器狀態(tài)檢查

　　確認(rèn)儀器供電（220V穩(wěn)定電源）的方法、接地（接地電阻≤4Ω）正常積極影響，避免漏電或電磁干擾（遠(yuǎn)離大功率設(shè)備如離心機(jī)方法、超聲清洗機(jī)）。

　　打開(kāi)儀器主機(jī)電源進一步提升，等待30分鐘預(yù)熱（光學(xué)系統(tǒng)進行探討、電極需達(dá)到穩(wěn)定工作溫度，一般為25±1℃）提供有力支撐，同時(shí)啟動(dòng)配套操作軟件管理，檢查軟件與儀器的連接狀態(tài)（無(wú)“通訊失敗”報(bào)警）。

　　檢查核心部件狀態(tài)：

　　光學(xué)系統(tǒng)：觀察光源（氙燈/汞燈）是否正常點(diǎn)亮重要手段，無(wú)閃爍、暗斑橫向協同；

　　Zeta電極：確認(rèn)電極表面無(wú)腐蝕不折不扣、結(jié)晶殘留，短期閑置需浸泡在去離子水中穩定性，使用前取出用無(wú)塵紙吸干水分最深厚的底氣；

　　分散單元：若測(cè)量粒徑需超聲分散，檢查超聲探頭是否清潔資源優勢、攪拌槳轉(zhuǎn)動(dòng)是否順暢應用擴展。

　　2、樣品準(zhǔn)備（關(guān)鍵步驟振奮起來，直接影響測(cè)量結(jié)果）

　　粒徑測(cè)量樣品要求：

　　樣品需為均勻分散體系（避免肉眼可見(jiàn)沉淀）建立和完善，若樣品易團(tuán)聚，需用對(duì)應(yīng)分散介質(zhì)（如水長足發展、乙醇紮實做、有機(jī)溶劑）稀釋至合適濃度（一般吸光度在0.1-0.5AU之間，濃度過(guò)高易導(dǎo)致顆粒遮擋規模設備，過(guò)低則信號(hào)弱）支撐作用。

　　若需分散，將樣品倒入分散池至關重要，開(kāi)啟超聲分散器（功率20-50W著力提升，時(shí)間10-60秒，根據(jù)樣品調(diào)整建設項目，避免過(guò)度超聲破壞顆粒結(jié)構(gòu)）動手能力，同時(shí)開(kāi)啟攪拌（轉(zhuǎn)速50-200rpm，確保顆粒均勻懸競鬟f。┍对鲂?。

　　Zeta電位測(cè)量樣品要求：

　　樣品濃度需更低（一般0.01%-0.1%，避免顆粒間相互作用影響電荷測(cè)量）戰略布局，且需用與實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景一致的電解質(zhì)溶液（如0.01mol/L KCl）調(diào)節(jié)離子強(qiáng)度重要意義，避免離子濃度過(guò)高導(dǎo)致電極極化規則製定。

　　若樣品含大顆粒（＞1μm），需先用0.22μm或0.45μm濾膜過(guò)濾（使用與樣品兼容的濾膜引領，如水系樣品用混合纖維素濾膜表現明顯更佳，有機(jī)相用PTFE濾膜），防止堵塞樣品池或干擾電泳信號(hào)優化服務策略。