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簡(jiǎn)要描述：Zeta電位與粒徑分析儀是在原有的經(jīng)典型號(hào)380ZLS基礎(chǔ)上升級(jí)配套而來深刻變革，采用動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測(cè)分析顆粒的粒度分布發揮，同機(jī)采用多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）檢測(cè)ZETA電位發展邏輯。
更新時(shí)間：2025-02-27廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家產(chǎn)品型號(hào)：Nicomp3000 zeta電位儀訪 問 量：6797 
具有50+年歷史
專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案
助您探索納米宇宙的精微奧秘生產製造！
0.9°步進(jìn)型多角度（MADLS）真正的多角度模塊
不同粒徑的納米粒子，尤其是粒徑遠(yuǎn)小于激光波長(zhǎng)的粒子在傳統(tǒng)的動(dòng)態(tài)光散射理論下的發生，力度分布（PSD）會(huì)失去一些細(xì)節(jié)融合。Entegris（PSS）Nicomp® 3000 系列開創(chuàng)性地配備了可以從14.4°-180°范圍內(nèi)，步長(zhǎng)0.9°的多角度模塊相結合，對(duì)特殊樣品（如極小粒徑）可以選用合適的角度進(jìn)行檢測(cè)提升，顯著提高對(duì)復(fù)雜體系的分辨力。
復(fù)用型直插靶電級(jí)相關性，減少耗材成本
Zeta電位檢測(cè)模塊競爭力，采用雙列直插式靶電極，清潔方便的必然要求，易于清洗的過程中，可以反復(fù)使用。既保護(hù)了環(huán)境狀況，也大大減少了使用一次性可丟棄的電極模塊的成本延伸。
專有的Nicomp®多峰分布有很大提升空間，可分辨1:2的多組分
Entegris（PSS）Nicomp® 3000系列搭載了Nicomp®多峰算法要求，可以有效區(qū)分不同粒徑（1：2的不同組分），為復(fù)雜體系和多組分體系提供了強(qiáng)有力的生產(chǎn)工具。
（下圖為同一復(fù)雜體系樣品分別在高斯算法和Nicomp®算法所呈現(xiàn)的結(jié)果）
高斯粒徑分布圖
Nicomp®多峰粒徑分布圖
自動(dòng)稀釋模塊和自動(dòng)進(jìn)樣模塊運行好，減少試錯(cuò)成本和人工誤差
Entegris（PSS）Nicomp® 3000 系列在動(dòng)態(tài)光散射法上應(yīng)用了自動(dòng)稀釋模塊和自動(dòng)進(jìn)樣模塊國際要求，既可以有效避免人工稀釋所帶來的試錯(cuò)成本和誤差，更可以實(shí)現(xiàn)檢測(cè)的自動(dòng)化操作非常重要，為大批量的檢測(cè)提供了良好的解決方案實事求是。
粒徑檢測(cè)：0.3nm-10.0μm
Zeta電位：-500mV-+500mV
| 醫(yī)藥領(lǐng)域 | 蛋白、病毒行動力、脂質(zhì)體結構、乳劑、膠束落到實處、納米晶效果、疫苗、納米載體營造一處、細(xì)胞等 |
| 化工領(lǐng)域 | 墨水服務水平、顏料、高分子材料保供、化工染料能力建設、潤(rùn)滑劑、石油化工技術創新、量子等 |
| 半導(dǎo)體領(lǐng)域 | 光刻膠醒悟、CMP slurry、樹脂等 |
| 其他 | 食品生產體系、飲料新模式、化妝品等 |
| 粒徑范圍 | 20nm-2μm* |
| 濃度 | 0.1-10wt% |
| 重復(fù)性 | ±5% |
| 檢測(cè)器 | PMT（光電倍增管） |
| 激光波長(zhǎng)精確性 | ±10% |
| 檢測(cè)角度 | 90° |
無需校準(zhǔn)
*hydrodynamic radius，流體動(dòng)力學(xué)半徑
均質(zhì)機(jī)/研磨機(jī)下游的粒度控制
脂質(zhì)體和乳劑等納米制劑產(chǎn)品的生產(chǎn)監(jiān)控
CMP漿料（研磨液）的磨損監(jiān)控
納米先進(jìn)材料生產(chǎn)過程中粒度監(jiān)控
Zeta電位用于測(cè)試顆粒之間排斥力 去突破，是判斷體系穩(wěn)定性的測(cè)量手段品質。
布朗運(yùn)動(dòng)的一個(gè)重要特點(diǎn)是：小粒子運(yùn)動(dòng)快速，大顆粒運(yùn)動(dòng)緩慢。由于粒子在不停地運(yùn)動(dòng)能運用，散射光斑也將出現(xiàn)移動(dòng)。由于粒子四處運(yùn)動(dòng)參與水平，散射光的相位疊加講理論，將引起光亮區(qū)域和黑暗區(qū)域呈光強(qiáng)方式增加和減少或以另一種方式表達(dá)，光強(qiáng)也成波動(dòng)形式智能設備。即：粒子的布朗運(yùn)動(dòng)導(dǎo)致光強(qiáng)的波動(dòng)解決問題。
通過拉普拉斯逆轉(zhuǎn)換服務效率，將光信號(hào)轉(zhuǎn)換成指數(shù)光譜的形式進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，將雜亂無章的波動(dòng)曲線轉(zhuǎn)換成有規(guī)則的自相關(guān)C(t)函數(shù)曲線導向作用。
通過自相關(guān)C(t)函數(shù)曲線得到衰變常數(shù)τ蓬勃發展，通過下面公示得到擴(kuò)散系數(shù)D；
1/τ= 2DK2 （K是散射光波矢量，是一個(gè)常數(shù)）
最后在通過 Stokes-Einstein 方程落實落細，得到粒徑大小R:
公式中：
K = 玻爾茲曼常數(shù)；
T = 絕對(duì)溫度組成部分；
h = 溶液的剪切粘度深入闡釋；
R = 粒子大小的半徑；
D = 擴(kuò)散系數(shù)高效化；
Nicomp® 3000系列設(shè)備檢測(cè)原理圖
Nicomp® 3000系列納米激光粒度儀采用動(dòng)態(tài)光散射原理檢測(cè)分析樣品的粒度分布大大提高。基于多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering完成的事情，ELS）檢測(cè)ZETA電位調整推進。其主要用于檢測(cè)納米級(jí)別及微米級(jí)別的體系，粒徑檢測(cè)范圍0.3nm-10μm應用前景，ZETA電位檢測(cè)范圍為±500mV指導。動(dòng)態(tài)光散射方法（DLS）從傳統(tǒng)的光散射理論中分離，關(guān)注瑞利散射區(qū)的小顆粒兩個角度入手，主要用于檢測(cè)納米級(jí)別的分散體系關註點。動(dòng)態(tài)光散射是通過光強(qiáng)值的波動(dòng)得到自相關(guān)函數(shù)，從而獲得衰減時(shí)間常量τ進入當下，進(jìn)而計(jì)算獲得粒子的擴(kuò)散速度D（Diffusion Coefficient建強保護，擴(kuò)散系數(shù)），代入Stokes-Einstein方程式首次，就可以計(jì)算得到顆粒的半徑流動性。
Zeta電勢(shì)電位測(cè)定：Nicomp® Z3000結(jié)合了動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)（DLS）和電泳光散射法（ELS）,實(shí)現(xiàn)了同機(jī)測(cè)試亞微米粒子分布和ZETA電勢(shì)電位。ELS是將電泳和光散射結(jié)合起來的一種新型光散射生產效率，它的光散射理論基礎(chǔ)是準(zhǔn)彈性碰撞理論反應能力，在實(shí)驗(yàn)時(shí)通過在樣品槽中外加一個(gè)外電場(chǎng)，帶電粒子即會(huì)以固定速度向與帶電粒子電性相反的電極方向移動(dòng)競爭激烈，與之相應(yīng)的動(dòng)態(tài)光散射光譜產(chǎn)生多普勒漂移投入力度，這一漂移正比于帶電粒子的移動(dòng)速度，因此由實(shí)驗(yàn)測(cè)得的譜線的漂移學習，就可以求得帶電粒子的電泳速度技術，從而得到電位值。通過測(cè)試顆粒之間的排斥力，判斷體系穩(wěn)定性的測(cè)量手段之一最新。
相位分析法（PALS）:用相位（Phase）變化的分析取代原先頻譜的漂移發揮重要作用，不僅使Zeta電位分析的精度及穩(wěn)定性有了顯著的提高，而且突破了水相體系的限制模樣，對(duì)有機(jī)相體系同樣能提供Zeta電位的精確分析取得顯著成效。
不同粒徑的納米粒子，尤其是粒徑遠(yuǎn)小于激光波長(zhǎng)的粒子在傳統(tǒng)的動(dòng)態(tài)光散射理論下過程中，力度分布（PSD）會(huì)失去一些細(xì)節(jié)振奮起來。Entegris（PSS）Nicomp® 3000 系列開創(chuàng)性地配備了可以從14.4°-180°范圍內(nèi)，步長(zhǎng)0.9°的多角度模塊特征更加明顯，對(duì)特殊樣品（如極小粒徑）可以選用合適的角度進(jìn)行檢測(cè)，顯著提高對(duì)復(fù)雜體系的分辨力啟用。
Entegris（PSS）Nicomp® 3000系列搭載了Nicomp®多峰算法，可以有效區(qū)分不同粒徑（1：2的不同組分）活動上，為復(fù)雜體系和多組分體系提供了強(qiáng)有力的生產(chǎn)工具達到。
（下圖為同一復(fù)雜體系樣品分別在高斯算法和Nicomp®算法所呈現(xiàn)的結(jié)果）
高斯粒徑分布圖
Nicomp®多峰粒徑分布圖
通過蛋白質(zhì)樣品的測(cè)試，Nicomp® 納米激光粒度儀對(duì)于小于10nm的粒子大型，依然顯示超高的分辨率和準(zhǔn)確度的可能性。Nicomp® 納米激光粒度儀的這種超高分辨率可以有效幫助研究人員更準(zhǔn)確更真實(shí)的檢測(cè)出樣品粒度分布。
如下圖不可缺少，蛋白質(zhì)單聚體的粒徑大小為1.7nm
蛋白質(zhì)雙聚體的理論粒徑大小為1.7nm的兩倍3.4nm系列。Nicomp® 3000系列測(cè)得的結(jié)果為2.9nm左右。這個(gè)數(shù)值符合實(shí)際粒徑大小服務為一體。
針對(duì)更復(fù)雜的四聚體方案，其理論粒徑為單聚體的4倍6.8nm。Nicomp® 3000系列測(cè)得的結(jié)果為5.7nm相互配合。這個(gè)數(shù)值符合實(shí)際粒徑大小統籌發展。
將上述3個(gè)數(shù)據(jù)疊加，我們可以清晰地看到在10nm以下仍然能得到粒徑相差很小的3個(gè)峰積極回應，顯示Nicomp® 3000系列儀器有超高的分辨率和靈敏度慢體驗。
Entegris（PSS）Nicomp® 3000 系列在動(dòng)態(tài)光散射法上應(yīng)用了自動(dòng)稀釋模塊和自動(dòng)進(jìn)樣模塊全會精神，既可以有效避免人工稀釋所帶來的試錯(cuò)成本和誤差左右，更可以實(shí)現(xiàn)檢測(cè)的自動(dòng)化操作，為大批量的檢測(cè)提供了良好的解決方案相對簡便。
Multiple sample trays available
3×7 samples-30mm tube（50mL）
4×10 samples-20mm tube（20mL）
5×12 samples-16mm tube（14mL）
6×15 samples-13mm tube（7mL）
Zeta電位檢測(cè)模塊，采用雙列直插式靶電極延伸，清潔方便有很大提升空間，易于清洗要求，可以反復(fù)使用。既保護(hù)了環(huán)境認為，也大大減少了使用一次性可丟棄的電極模塊的成本運行好。
Entegris（PSS）Nicomp® 3000 系列可以裝配高靈敏度的光電倍增管檢測(cè)器以及雪崩二極管檢測(cè)器，相比較傳統(tǒng)的光電倍增管有7-10倍放大增益效果紮實。
靈活設(shè)置用戶管理權(quán)限同期，增加安全性】赡苄愿?？稍O(shè)置密碼復(fù)雜度鍛造，自動(dòng)登出時(shí)間，密碼修改時(shí)限使命責任，滿足CSV計(jì)算機(jī)系統(tǒng)驗(yàn)證共謀發展。
1.用戶管理
2.允許編輯測(cè)樣方法
3.數(shù)據(jù)庫(kù)管理
4.鏈接驅(qū)動(dòng)
4.允許用戶用儀器測(cè)量樣品
5.對(duì)主機(jī)中固件更新（工程師權(quán)限）
6.密碼權(quán)限設(shè)置
7.可看、輸出持續創新、更改數(shù)據(jù)自動(dòng)備份位置
8.更改重新計(jì)算測(cè)試數(shù)據(jù)
9.導(dǎo)入曲線
10.曲線校準(zhǔn)（不對(duì)用戶開放）
11.增加減少報(bào)告模板
12.允許打印或?qū)С鰣?bào)告
13.刪除測(cè)樣數(shù)據(jù)（僅軟件界面看不到創造，數(shù)據(jù)庫(kù)數(shù)據(jù)依然存在，并可還原）
14. 刪除測(cè)樣數(shù)據(jù)
15. 刪除報(bào)告
16. 刪除文件
具備詳細(xì)的審計(jì)追蹤記錄分析，支持日志導(dǎo)出打印，記錄用戶登錄期間所有操作，可根據(jù)操作類型合規意識、時(shí)間聽得懂、項(xiàng)目等檢索。
數(shù)據(jù)備份支持手動(dòng)合理需求、自動(dòng)備份到文件路徑全技術方案。備份內(nèi)容包含完整數(shù)據(jù)內(nèi)容、操作方法先進水平、審計(jì)追蹤記錄日志等重要的。
簡(jiǎn)潔明了，支持不同權(quán)重共享，不同分析模型實(shí)時(shí)切換高端化，可快速查詢不同指標(biāo)。
| Nicomp® Z3000納米粒度及Zeta電位分析儀 | ||||
| 配置 | Standard | Pro | Plus | Ultimate |
| 溫度范圍 | 0°C~90°C(±0.1°C控溫精度利用好，無冷凝) | |||
| 激光光源 | 固體激光器 | |||
| 激光功率 | 15mW | 35mW | 35mW | 35mW |
| PH值范圍 | 1~14 | |||
| 粒度 | ||||
| 分析方法 | 動(dòng)態(tài)光散射參與水平，Gaussian分布和Nicomp多峰分布 | |||
| 檢測(cè)范圍 | 0.3nm~10μm | |||
| 最小樣品量 | 10μL | |||
| 最大濃度 | 40%w/v | |||
| 測(cè)量角度 | 90° | 90° | 多角度(14.4°~180°,包含90°，步進(jìn)0.9°) | |
| 分子量 | 342-2*107 Da | |||
| ZETA電位 | ||||
| 分析方法 | 電泳光散射（ELS）,多普勒頻譜分析法/相位分析法 | |||
| 檢測(cè)范圍 | 0.3nm~10μm | |||
| 最小樣品量 | ±500mV | |||
| 最大濃度 | 40%w/v | |||
| 測(cè)量角度 | -14.9° | |||
| 分子量 | 342-2*107 Da | |||
| 附件 | ||||
| 檢測(cè)器 | PMT(光電倍增管) | PMT（光電倍增管）&APD（雪崩二極管） | ||
| 樣品池 | ■ | ■ | ■ | ■ |
| 科研版軟件 | ■ | ■ | ■ | ■ |
| 雙列直插式靶電極 | ■ | ■ | ■ | ■ |
| 21 CFR Part11軟件 | □ | □ | □ | □ |
| 多角度檢測(cè)模塊 | / | / | ■ | ■ |
| 自動(dòng)進(jìn)樣模塊 | / | / | / | ■ |
| 自動(dòng)稀釋模塊 | / | / | / | ■ |
| 尺寸 | 56cm*4lcm*24cm | |||
| 重量 | 約26kg（與配置相關(guān)） | |||
| 注：以實(shí)際樣品為準(zhǔn) | ■標(biāo)配有望，隨箱自帶 | □選配智能設備，單獨(dú)購(gòu)買 | ||
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